貼片電容壽命檢測方法，貼片電容的使用并非無限，使用過久后還是會(huì)有消耗，貼片電容的使用壽命是有限的，貼片電容的壽命有兩層含義，其一是老化壽命，其二是使用壽命。下面風(fēng)華電容代理商為大家提供技術(shù)知識(shí)講解。

　　貼片電容的老化壽命一般沒有多大實(shí)際意義。一顆電容即便生產(chǎn)出來很多年，也一樣可以正常使用。這個(gè)和晶振不太一樣。當(dāng)然如果倉儲(chǔ)環(huán)境達(dá)不足，出廠時(shí)間久的貼片電容端電極有可能老化，導(dǎo)致焊接性能下降。因此原則應(yīng)該購買出廠一年以內(nèi)的產(chǎn)品。

　　風(fēng)華貼片電容使用壽命測試方法：

　　一、測試方法

　　1、低壓貼片電容(≤100V)

　　電壓：1.5 倍額定工作電壓。

　　時(shí)間：1000 小時(shí)。

　　溫度：125℃(NPO、X7R) 85℃(X5R、 Y5V)。

　　充電電流：不應(yīng)超過50mA。

　　放置條件：室溫。

　　放置時(shí)間：24 小時(shí)(Ⅰ類)，或48 小時(shí)(Ⅱ類)，。

　　2、中高壓貼片電容：

　　100V≤額定電壓<500V：2 倍工作電壓。

　　500V≤額定電壓≤1000V：1.5 倍工作電壓。

　　額定電壓>1000V：1.2 倍工作電壓。

　　時(shí)間：1000 小時(shí)。

　　充電電流：不應(yīng)超過50mA。

　　溫度：125℃(NPO X7R);85℃(X5R、Y5V)。

　　放置條件：室溫。

　　放置時(shí)間：24 小時(shí)(Ⅰ類)，或48小時(shí)(Ⅱ類)。

　　二、測試標(biāo)準(zhǔn)：

　　ΔC/C

　?、耦悾骸堋?%或±1pF 取兩者之中較大者。

　?、蝾悾築,X: ≤±20% ;E,F: ≤±30%。

　　ΔC/C：

　?、耦悾骸堋?%或±1pF取兩者之中較大者。

　?、蝾悾築,X: ≤±20%;E,F: ≤±30%。

　　DF：

　　≤2 倍初始標(biāo)準(zhǔn)。

　　IR

　　Ⅰ類：Ri≥4000MΩ或 Ri? CR≥40S 取兩者之中較小者。

　　Ⅱ類：Ri≥2000MΩ或 Ri? CR≥50S 取兩者之中較小者。

　　外觀

　　無損傷

　　貼片電容壽命檢測方法內(nèi)容就到這里，以上是風(fēng)華高科的貼片電容測試方法，想要了解其它品牌的測試方法可以對(duì)我司提問。